全智科技 > Wafer Test, Package Test, RF IC Test Support

首頁 > Support Overview

GS提供專業技術文件與解決方案，滿足您對專業知識的需求。...

對於GS有任何疑問嗎？看一下常見問答集，您可以在這裡快速找到答案。或者，您也可以直接與我們聯絡。...

「WIP管理系統」即時提供或更新測試中所需之測試條件和生產及工程相關資料，以執行隨時變化的客戶需求與測試流程。...

晶圓級測試

現今的IC設計複雜度日益增加，尤其應用在無線通訊上之RFIC更佳顯著，設計的複雜度及技術困難度...

封裝級測試

全智提供完整的RF量產測試服務，從測試程式開發、測試架構設計，到工程驗證與量產測試...

客製化解決方案

無線通訊晶片設計的快速發展，將技術與成本的問題從系統設計者延伸至測試廠商，為了克服這些挑戰...
看更多