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晶圓級測試
封裝級測試
客製化解決方案
客製化解決方案 (New)
客製化解決方案
無線通訊晶片設計的快速發展,將技術與成本的問題從系統設計者延伸至測試廠商,為了克服這些挑戰,除了標準測試設備之外,全智也提供客製化的測試解決方案,以滿足客戶不同的測試需求。
 
 
全智在RF領域的專業能力,提供測試設備整合、測試程式開發,協助客戶降低測試成本,並縮短上市時程。
 
 
 
已完成之量產I2C ATE Solutions :
*將I2C ATE測試規格最佳化及除錯後,我們將會建議客戶最經濟有效的量產測試解決方案,並取得客戶的核准。

GS-I2C GSSW

opt. 1 Cellular switch/ASM/attenuator high power signal testing

(Source 3GHz, Measurement 8.5GHz)

opt. 2 switch/SAW/BAW filter/Matching network test small signal testing

(Source 14GHz, Measurement 14GHz)

GS-I2C GSFEM

opt. 1 WiFi 802.11ac 160MHz bandwidth FEM testing (<= 6GHz)

opt. 2 Cellular GSm/CDMA/LTE PA/PAM/FEM testing (< 6GHz)

opt. 3 Linear Amp for broadcast application

GS-I2C GSRFS

opt 1. 2.4GHz BT SoC or 2.4GHz ISM SoC w/ 96 ch digital/ 12 DPS/ and 24 bit AWG/DIG

misc. RFID ...etc