現今的IC設計複雜度日益增加,尤其應用在無線通訊上之RFIC更佳顯著,設計的複雜度及技術困難度,導致良率降低而封裝成本增加...
全智提供完整的RF量產測試服務,從測試程式開發、測試架構設計,到工程驗證與量產測試,我們在RF測試領域累積豐富的經驗與技術...
無線通訊晶片設計的快速發展,將技術與成本的問題從系統設計者延伸至測試廠商,為了克服這些挑戰,除了標準測試設備之外,全智也提供客製化的...
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