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            | WIPシステム | 
           
          
            
| 今日の激しい競争に伴い、弊社のお客様は多様な製品ニーズと急速に変化する測定方法への対応を強いられています。私たちはこうした要求に対応すべく、「WIP管理システム」を応用し、測定中に必要な測定条件と生産及び工程に関するデータを即時に提供または更新しています。このほかに、「WIP管理システム」は測定結果と生産情報の自動フィードバックをユーザー及び顧客に提供し、お客様が各種ダイナミックデータを把握できるよう図ると同時に、適時に合理的且つ迅速な決断を下しています。全智科技の「WIP管理システム」を運用することでインターネットを通してお客様サイドから生産情報や過去の生産履歴をリアルタイムに検索することができ、手軽に生産の最新情報を入手できるとともに、専用のアカウントとパスワードでお客様の大切な生産機密データを保護しています。  |  
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| ‧ ロット生産データの収集―ロットを生産情報の基準とする |  
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| ‧ ロット製品のデータトラッキング―ロット別トラッキングシステム |  
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| ‧ インターネット経由で生産情報及び測定結果を入手 |  
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| ‧ ロット統合・分割管理 |  
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| ‧ マニュファクチャリング・フロー・カード管理 |  
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| ‧ 原料納入及び出荷管理 |  
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| ‧ 全顧客の全製品の工程及び生産パラメータの保存 |  
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‧ Lotus Notes環境中に構築した工程変更通知システムを通して、顧客の要求をWIP管理システム      にインポート |  
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| ‧ 製造工程管理の統計及び失効モード分析 |  
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| ‧ 異常処置 |  
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| ‧ 資源分配及び管理 |  
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                ウエハーレベル測定 
                  今日のIC設計は日々複雑化しています。特に無線通信に応用されるRF IC設計の複雑さと技術的難度は極めて顕著であり、良品率が少なく、マウントコストの増加をもたらしています... 
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                パッケージレベル測定 
                  全智は完全な量産測定サービスとして、測定プログラムの開発、測定構造設計、エンジニア検証と量産測定に至るまでのトータルサービスを提供しています... 
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                カスタム化ソリューション 
                  無線通信チップ設計の急速な発展に伴い、技術とコストの問題はシステム設計者から測定メーカーにまで影響をきたすようになりました。これらの難題を克服するため... 
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