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| パッケージレベル測定 |
| 全智は完全な量産測定サービスとして、測定プログラムの開発、測定構造設計、工程検証と量産測定に至るまでのトータルサービスを提供しています。私たちはRF測定分野における豊富な経験と技術を蓄積し、お客様に製品開発時間の短縮とコスト削減をお約束することができます。 |
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全智パッケージレベルIC測定サービス:
‧Prototype Characterization
‧Functional Test & Bench
‧Test Program Development and Conversion
‧DUT Board Design and Correlation
‧Fixture Design and Correlation
‧Reflow Process
‧Lead Scanning & Rework
‧Baking
‧Drop Shipment |
お客様へのサービス :
‧WIP Report
‧Yield Analysis
‧Cycle Time Report
‧Periodically Test data Transfer
‧Test Time Optimization | | |
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ウエハーレベル測定
今日のIC設計は日々複雑化しています。特に無線通信に応用されるRF IC設計の複雑さと技術的難度は極めて顕著であり、良品率が少なく、マウントコストの増加をもたらしています...
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パッケージレベル測定
全智は完全な量産測定サービスとして、測定プログラムの開発、測定構造設計、エンジニア検証と量産測定に至るまでのトータルサービスを提供しています...
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カスタム化ソリューション
無線通信チップ設計の急速な発展に伴い、技術とコストの問題はシステム設計者から測定メーカーにまで影響をきたすようになりました。これらの難題を克服するため...
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