- 測試程式開發, 測試程式跨平台轉換
- 矽光子測試實驗室
- 客製化測試平台設計開發
- 支援 HTOL測試
- 支援 RF System Level Test
- 產品特性分析與良率異常分析
- 優化測試時間
- 優化 Socket pins 清潔參數提高測試穩定度
- 測試下壓力(Contact Force) 管控
- 支援 PAT(Part Average Test) 測試
- 支援 GDBN(Good Die in Bad Neighborhood), Outlier 管控
- 優化針測卡清潔參數提高測試穩定度
- 針測卡製作之規劃與建議 , 代客委託製作
- 測試載板(Loadboard)製作之規劃與建議 , 代客委託製作
- 自動化配件(Handler Change Kit) 製作之規劃與建議 , 代客委託製作