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| ここでは技術書類、ソリューション等、関連性のある専門資料を探すことができます。分類ラベルをクリックすると、簡単に必要なファイルを探し当てることができます。 |
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ウエハーレベル測定
今日のIC設計は日々複雑化しています。特に無線通信に応用されるRF IC設計の複雑さと技術的難度は極めて顕著であり、良品率が少なく、マウントコストの増加をもたらしています...
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パッケージレベル測定
全智は完全な量産測定サービスとして、測定プログラムの開発、測定構造設計、エンジニア検証と量産測定に至るまでのトータルサービスを提供しています...
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カスタム化ソリューション
無線通信チップ設計の急速な発展に伴い、技術とコストの問題はシステム設計者から測定メーカーにまで影響をきたすようになりました。これらの難題を克服するため...
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