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| 客製化解決方案 |
| 無線通訊晶片設計的快速發展，將技術與成本的問題從系統設計者延伸至測試廠商，為了克服這些挑戰，除了標準測試設備之外，全智也提供客製化的測試解決方案，以滿足客戶不同的測試需求。 |
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| 全智在RF領域的專業能力，提供測試設備整合、測試程式開發，協助客戶降低測試成本，並縮短上市時程。 |
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已完成之量產I2C ATE Solutions :
*將I2C ATE測試規格最佳化及除錯後，我們將會建議客戶最經濟有效的量產測試解決方案，並取得客戶的核准。
‧Prescaler
‧Switch, Attenuator
‧2.4GHz FSK Transmitter
‧2.4GHz FSK Receiver
‧900 MHz DECT Transceiver
‧IF Power Amplifier |
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晶圓級測試
現今的IC設計複雜度日益增加，尤其應用在無線通訊上之RFIC更佳顯著，設計的複雜度及技術困難度...
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封裝級測試
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客製化解決方案
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